物理探査および孔内計測

■物理探査・検層 　 光以外のさまざまな物理現象を仲介として間接的に地盤の中の物理的性質と状態を地表面から調査する技術である。物理探査には測定対象となる物理現象に対応して多種多様な方法がある。 代表的な物理探査・検層一覧表 区分 方法 測定する物理現象 測定項目 利用目的 物理探査 弾性波探査 弾性実体波 弾性波速度 地盤構成・物性 常時微動測定 地盤振動 卓越周期 地盤特性 電気探査 電流・電位差 見掛けの比抵抗 地盤構成・地下水 地中レーダ 探査 電磁波 反射係数 地盤構成 高密度電気探査 電流・電位差 見掛けの比抵抗 詳細地盤構成 磁気探査 静磁気・地磁気 磁気異常 磁性物質分布 重力探査 重力 重力異常 地質構成 物理検層 PS検層 弾性実体波 弾性波速度 地盤構成・物性 電気検層 電流・電位 見掛けの比抵抗 地盤構成 密度検層 ガンマ線 ガンマ線強度 地盤構成・密度 孔径検層 　 孔径 孔径変化・孔壁状況 ボアホールカメラ 　 孔壁画面 亀裂走向・孔内状況 温度検層 孔中熱 地層温度 地中温度分布 地盤調査ホームへ戻る ページトップへ▲